Strona główna -> Ogólnopolska Baza Danych Jednostek Badawczo-Rozwojowych -> Ministerstwo Gospodarki i Pracy
Polska wersja English version Русская версия Version français


Powiadom mnie
o nowościach w serwisie
e-mail:





Wpisz zwrot lub hasło,
które chcesz wyszukać:





Wersja do wydruku  Wyślij do znajomego

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych


Dyrektor: dr Zygmunt Łuczyński
Sekretarz Naukowy: Andrzej Jeleński
Przewodniczący Rady Naukowej: prof. Władysław K. Włosiński

Dyscypliny wg KBN:
32 - elektronika
37 - inżynieria materiałowa

Uprawnienia do nadawania stopni naukowych doktora nauk technicznych w zakresie inżynierii materiałowej.

Główne kierunki działalności n-b:

  • materiały i związki półprzewodnikowe (Si, GaAs, GaP, InAs, InP);
  • epitaksjalne warstwy półprzewodnikowe (Si, GaAs, GaP, InP, GaAsP, InGaAs, InGaAsP, InGaAlP, GaAlAs, InAlAs);
  • materiały laserowe (YAP, YAG: Nd, Er, Pr): (Ho, Tm, Cr);
  • epitaksjalne warstwy YAG;
  • materiały elektrooptyczne i piezoelektryczne (kwarc, LiNbO3, LiTaO3, Li2B4O7);
  • materiały optoelektroniczne i nieliniowe (CaF2, BaF2, boranu boru BBO);
  • materiały podłożowe pod wysokotemperaturowe warstwy nadprzewodzące (SrLaGaO4, SrLaAlO4, CaNdAlO4, NdGaO3);
  • materiały i kształtki ceramiczne (Al2O3, Y2O3, ZrO2, Si3N4);
  • szkła, włókna światłowodowe i obrazowody;
  • kompozyty metalowo-ceramiczne;
  • złącza zaawansowanych materiałów ceramicznych (Si3N4, AlN) i kompozytów z metalami;
  • kompozyty metalowe i czyste metale (Ga, In, Al, Cu, Zn, Ag, Sb);
  • pasty do układów hybrydowych;
  • diody Schottky'ego, tranzystory FET i HEMT, lasery;
  • filtry i rezonatory z akustyczną falą powierzchniową;
  • maski chromowe do fotolitografii;
  • operacje technologiczne HI-TECH (fotolitografia, elektronolitografia, osadzanie cienkich warstw, obróbka termiczna);
  • charakteryzacja materiałów (spektrometria mas i Mössbauera, FTiR, EPR, ICP, RBS, spektrometria IR i UV, absorpcja atomowa, wysoko rozdzielcza dyfrakcja rentgenowska, fotoluminescencja, DLTS, PITS, mikroskopia optyczna i elektronowa);
  • charakterystyka podzespołów elektronicznych: pomiary impedancyjne, widm promieniowania, szumów.

Pracownicy z tytułem naukowym profesora:
Zdzisław Jankiewicz, Andrzej Jeleński, Jerzy Kapelewski, Michał Kopcewicz, Wiesław Marciniak, Bogdan Mrozewicz, Anna Pajączkowska, Witold Rosiński, Waldemar Soluch, Andrzej Turos, Eugeniusz Walczuk, Władysław Karol Włosiński.

Pracownicy ze stopniem naukowym doktora habilitowanego:
Marian Józef Buda, Jacek Jagielski, Paweł Tadeusz Kamiński, Jan Kowalczyk, Tadeusz Łukasiewicz, Michał Malinowski, Katarzyna Pietrzak, Paweł Szczepański, Henryk Tomaszewski, Wojciech Wierzchowski.

Placówka zatrudnia ponadto 32 osoby ze stopniem naukowym doktora.

Wydawnictwa:
Materiały Elektroniczne (kwartalnik),
Prace ITME (seryjne),
e-mail: ointe@sp.itme.edu.pl
NEXUS Research News
e-mail: mstnewsp.itme.edu.pl

W internecie:
http://www.itme.edu.pl/

Adres:
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa 118, skr.pocz. 39
tel.835-30-41 do 49
fax: 834-90-03
komertel/fax: 39 12 07 64
e-mail: luczyn_z@sp.itme.edu.pl
e-mail: jelens_a@sp.itme.edu.pl

[początek strony]

Copyright: Instytut Organizacji i Zarządzania w Przemyśle „ORGMASZ” © Warszawa 1996-2005; webmaster@orgmasz.pl